1） 干涉条纹视场过小。主要表现是当第二条黑条纹对零后，在划
分极右侧出现暗影，或者第一条黑条纹前的干涉条纹不到两条。主要原因是光路不上，平面镜后倾不足或后倾过量，导致一部分从折光棱镜反射回来的光线投射不到平面镜上，使平面镜干涉区过小。处理办法是调整平面镜和折射棱镜的倾角。
（2）读数偏小。一台瓦检仪对好零位基线后，未检测前就出现基线左移或者几台瓦检仪同时对同一地点进行瓦斯检测时，有的瓦检仅显示的数据偏小。
